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EDX600 X荧光光谱仪使用而实用的正比计数盒探测器，以实在的价格定位，满足贵金属的成分检测和镀层厚度测量的要求，且新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更人性化、更方便。
EDX600 X荧光光谱仪的性能特点
专业贵金属检测、镀层厚度检测。
智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。
EDX600 X荧光光谱仪的技术指标
元素分析范围：从钾（K）到铀（U）。
测量对象：固体、液体、粉末
分析检出限可达：1ppm。
分析含量般为：1ppm到99.9％。
多次测量重复性可达：0.1％。
工作稳定性为：0.1％。
EDX600 的标准配置
单样品腔。
正比计数盒探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
外观尺寸： 430×380×355mm
样品腔尺寸：306×260×78mm
重量：30kg
EDX600 的应用领域
黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
更新时间：2024/1/5 19:47:23
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