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X荧光光谱仪,江苏天瑞仪器股份有限公司

X荧光光谱仪,江苏天瑞仪器股份有限公司
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价格:电议

型号:EDX4500

采购度:4452    原产地:中国大陆

发布时间:2018/10/16 8:32:40

产品简介:超薄窗X光管,指标达到际水平
新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性

在线询价咨询电话:0755-23025810

详细信息
 性能参数

产品型号:EDX 4500
产品名称:X荧光光谱仪
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)
同时分析元素:次性可测几十种元素
分析精度:0.05% (含量高于96%以上的样品、21次测试稳定性)
测量时间:60秒-200秒
探测器能量分辨率为:145±5eV
管压:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
测量对象状态:粉末、固体、液体
输入电压:AC 110V/220V
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:35%-70%
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
样品腔体积:Φ320mm×100mm
重量:65Kg

性能特点

超薄窗X光管,指标达到际水平
新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
天瑞仪器产品—信噪比增强器(SNE),提高信号处理能力25倍以上
低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置了仪器工作的致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)目了然

标准配置

超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
信噪比增强器 SNE
钢铁行业测试专用配件
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安保护模式
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构,力度的
90mm×70mm的液晶屏
真空泵

应用领域

钢铁检测、元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素等)

更新时间:2024/1/5 19:47:21

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