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X射线测厚仪原理_厂家天瑞仪器

X射线测厚仪原理_厂家天瑞仪器
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价格:电议

型号:THICK800A

采购度:4992    原产地:中国大陆

发布时间:2018/10/26 9:21:05

产品简介:??XRAY测厚仪原理是根据XRAY穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号,经过前置放大器放大,再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。

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详细信息
 

X射线测厚仪原理

??XRAY测厚仪原理是根据XRAY穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号,经过前置放大器放大,再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。

 

X射线测厚仪适用范围

 

??XRAY测厚仪适用于生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业,可以与轧机配套,应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中,XRAY测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。

Thick8000.png

X射线测厚仪Thick800A仪器介绍

Thick800A是天瑞仪器销量多的镀层测厚仪;仪器采用上照式结构,测试,软件界面简洁,测试样品用时40S,售后服务及时。仪器性能特点1.满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求2.φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求,可以对同镀件不同部位测试厚度3.高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm4.采用高度定位激光,可自动定位测试高度5.定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐6.鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点7.高分辨率探头使分析结果更加8.良好的射线屏蔽作用9.测试口高度敏感性传感器保护 仪器参数规格1   分析元素范围:S-U2   同时可分析多达5层以上镀层3   分析厚度检出限达0.005μm4   多次测量重复性可达0.01μm5   定位精度:0.1mm6   测量时间:30s-300s7   计数率:1300-8000cps8   Z轴升降范围:0-140mm9   X/Y平台可移动行程:50mm(W)×50mm(D) 仪器软件优势:                                     仪器采用天瑞软件研发团队研发的能量色散X荧光FpThick软件,的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、键智能化操作。谱图区域采用动态模式,测试时元素观察更直观。软件具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。 测试实例镀镍器件是比较常见的电镀器件,其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。
以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度,七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试,其测试位置如图。
        
                                                                   铜镀镍件X射线荧光测试谱图 
样 品 名 成分Ni(%) 镀层Ni(um)
吊扣 100 19.321
吊扣2# 100 19.665
吊扣3# 100 18.846
吊扣4# 100 19.302
吊扣5# 100 18.971
吊扣6# 100 19.031
吊扣7# 100 19.146
平均值 100 19.18314
标准偏差 0 0.273409
相对标准偏差 0 1.425257
铜镀镍件测试值结论

实验表明,使用Thick800A 仪器对镀件膜厚测试,结果度高,速度快(几十秒),其测试效果完可以和显微镜测试法媲美。

 

X射线测厚仪厂家介绍

江苏天瑞仪器股份有限公司是专业生产镀层测厚,气相色谱质谱联用仪,镀层测厚仪,等离子发射光谱仪,ROHS分析仪ROHS检测仪,X射线镀层测厚仪,气相色谱仪ROHS测量仪,液相色谱仪,ROHS2.0分析仪,XRF合金分析仪X荧光光谱仪,汽油中硅含量检测仪, ROHS检测仪器,手持式合金分析仪等,涉及的仪器设备主要有EDX1800B,Thick800AThick8000,ICP2060T,GCMS6800,ICPMS2000等。


 

天瑞仪器镀层测厚仪展厅

更新时间:2024/1/3 8:14:07

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