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X荧光光谱仪在铜材检测中的应用,天瑞仪器

X荧光光谱仪在铜材检测中的应用,天瑞仪器
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价格:电议

型号:EDX4500

采购度:657    原产地:中国大陆

发布时间:2018/10/31 10:29:58

产品简介:EDX4500 X荧光光谱仪是利用XRF技术解决内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、分析。该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率; 采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率。

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详细信息
 型号:EDX4500


仪器介绍
EDX4500 X荧光光谱仪是利用XRF技术解决内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、分析。该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率; 采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比; 采用自动稳谱装置,了仪器工作的致性; 利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度;采用相似自动分类技术使分类更,地克服基效应对测量带来的影响;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
性能特点
专业的水泥、钢铁、矿料等元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器,摒弃液氮制冷。
智能元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
技术指标
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—99.99%
同时分析元素:24种元素同时分析
测量镀层:镀层厚度测量薄至0.005微米,可分析5层以上的镀层
分析精度:0.05%
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
能量分辨率为:(150±5)eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
应用领域
钢铁和有色金属检测
水泥检测
矿料分析

 

江苏天瑞仪器股份有限公司是专业生产X荧光光谱,气相色谱质谱联用仪,镀层测厚仪电感耦合等离子体发射光谱仪,ROHS分析仪X射线镀层测厚仪,气相色谱仪ROHS测量仪,液相色谱仪,ROHS2.0分析仪,XRF合金分析仪X荧光光谱仪,汽油中硅含量检测仪, ROHS检测仪器,手持式合金分析仪等,涉及的仪器设备主要有EDX1800B,Thick800AThick8000,ICP2060T,GC-MS6800,ICP-MS2000等。

 

 

江苏天瑞仪器股份有限公司被授予 “江苏省技术企业”,“江苏省软件企业”,“江苏省科技创新示范企业”,“江苏省重点软件企业”等荣誉称号。产品具有际的技术水平,X荧光光谱仪(ROHS检测仪)系列产品被认定为“家重点新产品”和“江苏省技术产品”。产品品种齐,为环境保护与安、工业测试与分析等众多领域提供检测方案。

更新时间:2022/7/6 12:11:41

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